Zref

Beskrivelse

Zref giver dig mulighed for at udføre to typer beregninger fra enkeltkrystaldiffraktionsmålinger for at bestemme enhedscelleparametre. Hvis du har centreret refleksioner i 8 positioner på diffraktometeret med zref-kommandoen i Single-softwaren, gemmes de endelige omega-profiler i en rfl-fil. Refleksionsprofilerne, der er gemt i denne fil, kan derefter undersøges af WinIntegrStp-programmet, genmonteres automatisk, og de ideelle toppositioner og celleparametre kan bestemmes. Hvis du har problemer med topformer, vil den automatiserede proces mislykkes. Hvis dette sker, kan du tilpasse og integrere toppene manuelt i WinIntegrStp og gemme de tilpassede positioner i en integreret data- eller int-fil. Læs derefter int-filen ind i dette program, hvor du kan bestemme de korrigerede toppositioner ved 8-positionsmetoden og forfine enhedscelleparametrene. Programmet vil også læse mat-filer genereret af Single, så du kan udføre mindste kvadrater på peak-listen uden at starte Single.